產(chǎn)品介紹

ZAP-IT激光校準(zhǔn)紙目錄

ZAP-IT®激光校準(zhǔn)紙10x10英寸

型號：Z3T-1010-50

每包50張。每張紙為10 x 10英寸。 厚度為0.25mm。

背面為純白色。帶封口的塑料袋。

Z3T ZAP-IT®激光校準(zhǔn)紙6x6英寸

型號：Z3T-66-100

100張裝在有封口的塑料袋中。每張紙為6 x 6英寸。厚度為0.25mm。

正面采用緞面黑色專有涂層。純白背。

Z3T ZAP-IT帶網(wǎng)格的激光校準(zhǔn)紙4x8英寸

型號：Z3T-48G-50

Zap It新技術(shù)網(wǎng)格校準(zhǔn)紙。

每包50張。帶封口的塑料袋。每張紙為4 x 8英寸。厚度為0.25mm。

正面采用緞黑色專li涂層。純白色背面，無印刷。具有2mm網(wǎng)格圖案。

Z3TZAP-IT®激光校準(zhǔn)紙4 x 8英寸

型號：Z3T-48-50

Z3T-48-50 Zap-It新技術(shù)校準(zhǔn)紙。

每包50張。帶封口的塑料袋。每張紙為4 x 8英寸。厚度為0.25mm。

正面采用緞面黑色專有涂層。背面為純白色，無印刷。

Z3T ZAP-IT®激光校準(zhǔn)紙2 x 5英寸

型號：Z3T-25-50

Zap-It新技術(shù)校準(zhǔn)紙。

每包50張。帶封口的塑料袋。每張紙是2x5英寸。 厚度為0.25mm。

正面采用緞面黑色專有涂層。背面為純白色，無印刷。

ZAP-IT低能耗激光校準(zhǔn)紙靶

型號：ZL-22 (ZL22),ZL-25 (ZL25),ZL-48 (ZL48)(已停產(chǎn))。ZAP-IT®低能耗激光校準(zhǔn)紙靶有2種尺寸。

ZL-22：2 x 2.2英寸，帶有四個細線，十字準(zhǔn)線目標(biāo)。100張/包。厚度為0.11mm。卡背面未打印。

ZL-25：2 x 5英寸，無目標(biāo)。75張/包。厚度為0.11mm。卡背面未打印。

ZL-48：4 x 8英寸，無目標(biāo)。（不適用-已停產(chǎn)）50張/包。厚度為0.11mm。卡背面未打印。

這種低能耗紙的能量閾值比ZAP-IT®激光校準(zhǔn)紙低20％。在ZAP-IT®激光校準(zhǔn)紙背面提供的區(qū)域中記錄激光和光束規(guī)格。

使用ZAP-IT®激光校準(zhǔn)紙記錄激光束特征

• 光束形狀

• 模式

• 強度

• 發(fā)散

• 能量分配

ZAP-IT®激光校準(zhǔn)紙?zhí)匦?/span>

• 脈沖寬度范圍：1 ns至30ms

• 能量水平范圍：5mJ/cm2至20 J /cm2

• 在紫外線到紅外線的廣譜范圍內(nèi)敏感。

• 用于將外部附件（例如擴束器，透鏡，光圈，衰減器和功率測量設(shè)備）對準(zhǔn)激光束軸。

• 包裝在可重新密封的塑料袋中，便于拿取和存儲。

• 建立穩(wěn)定的可視化數(shù)據(jù)庫。

使用ZAP-IT®激光校準(zhǔn)紙

將紙張放在光束印記要被記錄的光束路徑中。脈沖激光以產(chǎn)生的視覺記錄，對應(yīng)于激光束內(nèi)的能量分布。對于連續(xù)波（CW）激光器，請使用機械斬波器或Q開關(guān)來產(chǎn)生短脈沖或物理方式快速開關(guān)激光。

注意：始終佩戴激光防hu眼鏡

• 在進行ZAP-IT®燒錄之前，請移除光纖光束傳輸系統(tǒng)。光纖可以擾亂光束的模式結(jié)構(gòu)，從而產(chǎn)生均勻的圖案，該圖案不會顯示激光束中的不規(guī)則性。

• 對于直徑小于?（6.3 mm）的激光束，使用擴束透鏡增加直徑并在ZAP-IT®Burn中獲得更多細節(jié)。

• 在光束路徑中放置一個正透鏡（最常見），并在>2.5倍透鏡焦距的距離處進行灼燒。該距離處的光束直徑大于原點處的光束直徑。

• 增加或減少激光輸出能量水平，使細節(jié)在ZAP-IT®激光校準(zhǔn)紙上清晰可見。

• 不是所有的激光器都具有足夠的輸出功率來留下詳細的灼傷。作為參考，具有至少10毫焦耳輸出的脈沖激光（飛秒至50毫秒）通常將產(chǎn)生良好的細節(jié)。

• 對于沒有留下足夠細節(jié)的激光束脈沖，將激光校準(zhǔn)紙留在原位并施加幾個脈沖。

ZAP-IT®激光校準(zhǔn)紙上的印記提供以下信息

• 反射鏡對準(zhǔn)精度

• 能量分布，模式質(zhì)量和邊緣清晰度

• 漸暈

• 未鍍膜或未正確放置的光學(xué)元件導(dǎo)致的二次反射

• 發(fā)散

• 光路中的光學(xué)損傷

保存ZAP-IT®燒蝕記錄，以便對校準(zhǔn)和光束質(zhì)量進行歷史評估和比較。原始設(shè)備制造商（OEM）和現(xiàn)場服務(wù)人員通常使用之前的燒蝕模式進行快速性能檢查。

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