光學組件的表面質量是對可能會在制造和處理過程中產生的表面缺陷的評估。在大多數(shù)情況下，這些缺陷幾乎或*不會對成像或聚光應用中的整體系統(tǒng)質量產生負面影響。通常，它們只會略微降低吞吐量或略微增加散射光。但是，某些特定表面會對這些缺陷更為敏感（如成像板的表面），因為這些缺陷將進過聚焦，并且表面會出現(xiàn)高功率，而這些缺陷會增加能量吸收并損壞光學元件。適用于表面質量評級的規(guī)定包括：

1、ANSI/OEOSC OP1.002-2009，針對光學和電光儀器 – 光學元素和組件 – 外觀缺陷*

2、ISO10110-7：2008，光學和光電- 適用于光學元件和系統(tǒng)的制圖 - 第7部分：表面缺陷公差*

3、ISO14997：2003;光學和光學儀器 - 用于檢測光學元件表面缺陷的方法

4、MIL-PRF-13830B；管理火控儀器光學組件的制造、組裝和檢測的一般規(guī)格

*可以按照這些標準制造愛特蒙特光學的自定義光學組件

愛特蒙特光學遵循常用的表面質量評級方法：美國軍用性能規(guī)范MIL-PRF-13830B，該方法采用基于此處規(guī)定的校準的標準“劃痕和麻點”數(shù)。它確定了劃痕和麻點的口徑，并根據(jù)組件的大小及其劃痕和麻點數(shù)確立了限制每個缺陷所允許數(shù)量的規(guī)定。

劃痕和麻點數(shù)是不相關的兩位數(shù)，通常以連字號分隔：前面是劃痕數(shù)，后面是麻點數(shù)。這些數(shù)字通過肉眼將劃痕的亮度和麻點的直徑與校準標準中對應的內容進行比較來確定，組件和標準均遵從性能規(guī)范中規(guī)定的光照條件。的劃痕和麻點數(shù)表明組件的劃痕亮度或麻點尺寸不能超出校準標準中的對應數(shù)字。

劃痕數(shù)是以下任意數(shù)字之一：10、20、40、60或80，其中劃痕亮度從10到80逐漸提高。這并不是準確的測量結果，只是表示組件劃痕亮度與校準標準劃痕亮度的佳匹配。但是，麻點數(shù)是可測量的數(shù)字：即大組件麻點的直徑，以1/100毫米為單位。因此，直徑為0.4mm的麻點將表示為麻點數(shù)40，直徑為0.2mm的麻點將表示為麻點數(shù)20，以此類推（圖1）。

圖1： 劃痕-麻點評估說明

一旦確定劃痕和麻點數(shù)，即可按照以下方式確定可允許缺陷的限制：

劃痕

具有劃痕數(shù)(LSN)的抓痕長度之和不能超出光學元件直徑的四分之一。對于非圓形光學元件，應該使用與該光學元件相同區(qū)域的圓形的直徑。

麻點

所允許的大尺寸的麻點(N)的總數(shù)量不能超過直徑除以二十得出的商。

所有麻點直徑(d)的總和應該小于或等于所允許的大尺寸的麻點(N)的總數(shù)乘以麻點數(shù)(D)得出的積。

根據(jù)以上限制，直徑為100mm且表面質量為60-40的光學元件可以具有多個亮度為60的劃痕（總長度不超過25mm）。它所具有的大尺寸，即0.4mm（40麻點數(shù)）的挖痕不能超過5個，而且所有麻點的直徑之和不能超過4mm。

80-50的劃痕-麻點規(guī)格通常被視為標準質量，60-40被視為精密質量，而20-10則被視為高精密質量。